D系列电迁移(EM)测试系统

是指电场作用下金属离子或原子在导体中沿电子运动方向发生迁移的现象。

发生机理：

通电情况下金属原子将会受到两个力的作用：第一个是因电场存在而受到的静电场力，方向与电子流的方向相反；第二个是因受到电子冲击碰撞相互作用而受到的电子风力，其受力方向与电子流的方向相同；当电流流动时，电场作用下自由电子定向移动并不断与原本固定不动的金属原子不断发生碰撞并进行动量交换，在金属原子内产生电子风力，随着电流密度的不断增加以及环境温度的上升，电子对金属原子的作用不断加强，最终将会导致电子风力大于静电场力，金属原子开始离开初始位置，在电子风作用下定向迁移。

高校教育、科研机构、PCB厂商、PCBA厂家、第三方检测机构等。

设备展示

电迁移测试设备如何选型？

选择电迁移测试设备厂家时，建议核对测试对象、电流范围、通道数量、温度条件、失效判定、夹具与数据分析要求，再确定半导体电迁移测试方案。

电迁移测试设备多少钱？

价格主要取决于通道数、电流量程、温控设备、测试夹具和定制功能。提供样品结构、试验标准和测试条件后，可获得更准确的配置与报价。

上海电迁移测试设备服务包含什么？

联电芯创面向半导体、PCB、科研院所和第三方检测项目提供电迁移测试设备选型与方案咨询，具体交付内容与周期需按项目确认。

相关系统：IST、BGA球与IC载板测试系统｜半导体及分立器件可靠性监测系统｜PCB通孔与导通电阻测试系统