绝缘电阻的测试方法是对被测物体施加恒定的直流电压，在规定的时间获取电流值，根据欧姆定律计算出绝缘电阻；测试过程中直流电压是相对稳定的，但被测物体流过的泄露电流是动态的，其中原因一是电子在外在电场力与原子核的束缚之间摇摆，挣脱原子核的束缚就转化成自由电子，泄露电流就增加，自由电子在流动过程中被原子核束缚，泄露电流就减少；其二就是被测物体的极化效应造成绝缘电阻值的不稳定性，因此，国际电工委员会(IEC)和国家标准化管理委员会发布的相关标准中，采纳对被测物体施加直流电压60秒时获得的泄露电流计算出的绝缘电阻值做为基准电阻值。

极化效应是指被测物体在直流电压施加初期电荷的快速积累和随后相对较慢的消散过程，在这个过程中，绝缘电阻值与泄露电流呈现是一个函数曲线，时间越长，泄露电流越小，绝缘电阻值越高。（见下图）

在PCB板应用中，由于测试通道数比较多，少则几十，多则几百，从经济成本考虑，较多采用多点电流扫描的方式，即对一组的被测物体施加同一直流电压，当到达60秒后逐点切换通道，通道切换时间通常是3-4秒，假设一组是64个通道，第1个被测物体是加压60秒的绝缘电阻值，而到第64个被测物体大约是加压300秒(5分钟)的绝缘电阻值，这时测得绝缘电阻值比60秒测试到的基准绝缘电阻是偏高的，因此，只有实现所有测试通道同步测试才能够使每个被测物体获得准确的基准绝缘电阻值。